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Products
基础型 TEM 小室 返回
产品概述
该产品是一个 2 GHz 的横电磁波（TEM）小室，能够产生均匀横电磁场，用于测试小型集成电路，如芯片、无线通信模块等。测试辐射发射时， 集成电路在小室中发射的辐射场可以通过端口使用电磁波接收器进行测量。测试抗扰度时，通过小室的输入端口施加的外部测试信号在 小室内导体上方产生 TEM 测试场。
符合标准
应用领域
参数表
配件
符合标准：
IEC 61967-2 集成电路电磁发射测量 150kHz ～ 1GHz 第 2 部分：辐射发射测量 TEM 小室法 SAE J1752/3 集成电路 TEM/ 宽带 TEM（GTEM）小室法的辐射发射测量；TEM 小室（150 kHz 至 1 GHz）、宽带 TEM 小室（150 kHz
至 18 GHz） IEC 62132-2 集成电路电磁抗扰度测量 第 2 部分：辐射抗扰度测量 TEM 小室和 GTEM 小室法
应用领域：
用于测试小型集成电路，如芯片、无线通信模块等
技术参数：
频段
DC – 2 GHz
阻抗
50 Ω ± 5 %
电压驻波比
DC - 3 GHz < 1.25
插入损耗 DC - 2 GHz < 1 dB
回波损耗
 DC - 2 GHz > 20 dB
射频接口
 N 型接口
待测电路板尺寸
 100 × 100 mm

配件：
视频播放：
上海凌世电磁技术有限公司
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电话：021-66309055 15821599306

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